ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગ ફ્રીક્વન્સી રિસ્પોન્સ શું છે?

ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગ વિકૃતિ એ મશીનરી અને વીજળીની ક્રિયા હેઠળ વિન્ડિંગના કદ અને આકારમાં ઉલટાવી શકાય તેવા ફેરફારોનો સંદર્ભ આપે છે.તેમાં અક્ષીય અને રેડિયલ પરિમાણોમાં ફેરફાર, શરીરનું વિસ્થાપન, વિન્ડિંગ ટ્વિસ્ટ, મણકાની અને ઇન્ટર-ટર્ન શોર્ટ્સ વગેરેનો સમાવેશ થાય છે. તેનું કારણ એ છે કે ટ્રાન્સફોર્મરને ઓપરેશન દરમિયાન આઉટલેટ પર વિવિધ શોર્ટ-સર્કિટ આંચકા અને શોર્ટ-સર્કિટનો અનિવાર્યપણે સામનો કરવો પડે છે.ખાસ કરીને ટ્રાન્સફોર્મર્સ માટે હાનિકારક.

                                                                                                                       HV Hipot GDRB-B ટ્રાન્સફોર્મર ફ્રીક્વન્સી રિસ્પોન્સ વિશ્લેષક

જો કે સર્કિટ બ્રેકર સર્કિટમાં શોર્ટ-સર્કિટની ખામીને ઝડપથી દૂર કરી શકે છે, પરંતુ ઓટોમેટિક ડિવાઈસ ઘણીવાર અમુક કારણોસર કામ કરતું નથી, જેથી શોર્ટ-સર્કિટ કરંટની ક્રિયા હેઠળ ટ્રાન્સફોર્મર કોઈલ ખૂબ જ ટૂંકા ગાળામાં વિકૃત થઈ જાય છે. ગરમી, વીજળી અને ગંભીર ઇન્ટરફેસ શોર્ટ-સર્કિટ અને વિન્ડિંગ બળી જાય છે;તે જ સમયે, ટ્રાન્સફોર્મર પણ બમ્પ થઈ શકે છે અને પરિવહન અને ઇન્સ્ટોલેશન દરમિયાન અસરગ્રસ્ત થઈ શકે છે, જેના પરિણામે વિરૂપતા, તૂટેલી સેર, વિસ્થાપન, ઢીલું થવું અને અન્ય ઘટનાઓ થઈ શકે છે.

ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગ ડિફોર્મેશન ટેસ્ટનો હેતુ શું છે?

A: વિન્ડિંગ વિકૃતિ એ પાવર સિસ્ટમ્સના સુરક્ષિત સંચાલન માટે એક મોટો છુપાયેલ ખતરો છે.તાજેતરના વર્ષોમાં, પાવર સિસ્ટમની ક્ષમતામાં વધારો થવા સાથે, શોર્ટ-સર્કિટની ક્ષમતા પણ વધી રહી છે, અને આઉટગોઇંગ લાઇનના શોર્ટ-સર્કિટને કારણે વિન્ડિંગ ડેમેજ અકસ્માતમાં પણ વધારો થઈ રહ્યો છે.

ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગ વિકૃત થયા પછી, પ્રથમ ઇન્સ્યુલેશન અંતરમાં ફેરફાર અથવા ઇન્સ્યુલેશન પેપરનું નુકસાન છે.જ્યારે ઓવરવોલ્ટેજનો સામનો કરવો પડે છે, ત્યારે વિન્ડિંગ્સમાં ઇન્ટર-કેક અથવા ઇન્ટર-ટર્ન બ્રેકડાઉન હશે, અથવા લાંબા ગાળાના કાર્યકારી વોલ્ટેજની ક્રિયા હેઠળ, ઇન્સ્યુલેશન નુકસાન ધીમે ધીમે વિસ્તરશે, આખરે ટ્રાન્સફોર્મર તરફ દોરી જશે.નુકસાન: બીજું, વિન્ડિંગ વિકૃત થયા પછી, યાંત્રિક ગુણધર્મો ઘટે છે.જ્યારે શોર્ટ સર્કિટ અકસ્માત ફરીથી થાય છે, કારણ કે તે વિશાળ અસર બળનો સામનો કરી શકતું નથી, ત્યારે તાત્કાલિક નુકસાનની દુર્ઘટના થશે, અને તે હજુ પણ સમયગાળા માટે કાર્ય કરી શકે છે.

ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગનું વિરૂપતા એ ટ્રાન્સફોર્મરને નુકસાન થવાનું એક મહત્વનું કારણ છે.પરંપરાગત વિદ્યુત પરીક્ષણો જેમ કે પ્રતિકાર માપન, પરિવર્તન ગુણોત્તર માપન અને કેપેસીટન્સ માપન માટે વિન્ડિંગ ડિફોર્મેશન શોધવા મુશ્કેલ છે, જે પાવર ગ્રીડની સલામત કામગીરીને ગંભીરપણે જોખમમાં મૂકશે.આ કારણોસર, યાંત્રિક અને વિદ્યુત દળોને આધિન ટ્રાન્સફોર્મર વિન્ડિંગ્સના વિકૃતિને શોધવા અને તેનું નિદાન કરવું ખૂબ જ જરૂરી છે.