ટ્રાન્સફોર્મર નો-લોડ ટેસ્ટ શું છે?

ટ્રાન્સફોર્મરનું નો-લોડ ટેસ્ટ એ ટ્રાન્સફોર્મરની બંને બાજુના વિન્ડિંગમાંથી રેટેડ સાઈન વેવ રેટેડ ફ્રીક્વન્સીના રેટેડ વોલ્ટેજને લાગુ કરીને ટ્રાન્સફોર્મરના નો-લોડ નુકશાન અને નો-લોડ પ્રવાહને માપવા માટેનું પરીક્ષણ છે, અને અન્ય વિન્ડિંગ્સ ઓપન-સર્ક્યુટેડ છે.નો-લોડ કરંટ માપેલ નો-લોડ વર્તમાન I0 ની ટકાવારી તરીકે રેટ કરેલ વર્તમાન Ie તરીકે દર્શાવવામાં આવે છે, જેને IO તરીકે સૂચિત કરવામાં આવે છે.

                                                                                                 HV HIPOT GDBR શ્રેણી ટ્રાન્સફોર્મર ક્ષમતા અને નો-લોડ ટેસ્ટર

જ્યારે ટેસ્ટ દ્વારા માપવામાં આવેલ મૂલ્ય અને ડિઝાઇન ગણતરી મૂલ્ય, ફેક્ટરી મૂલ્ય, સમાન પ્રકારના ટ્રાન્સફોર્મરની કિંમત અથવા ઓવરહોલ પહેલાંની કિંમત વચ્ચે નોંધપાત્ર તફાવત હોય, ત્યારે તેનું કારણ શોધવું જોઈએ.

નો-લોડ નુકશાન મુખ્યત્વે આયર્નની ખોટ છે, એટલે કે, આયર્ન કોરમાં વપરાશમાં લેવાયેલ હિસ્ટ્રેસીસ નુકશાન અને એડી વર્તમાન નુકશાન.નો-લોડ પર, પ્રાથમિક વિન્ડિંગ દ્વારા વહેતો ઉત્તેજના પ્રવાહ પણ પ્રતિકાર નુકશાન પેદા કરે છે, જેને અવગણી શકાય છે જો ઉત્તેજના પ્રવાહ નાનો હોય.નો-લોડ લોસ અને નો-લોડ કરંટ ટ્રાન્સફોર્મરની ક્ષમતા, કોરનું માળખું, સિલિકોન સ્ટીલ શીટનું ઉત્પાદન અને કોરની ઉત્પાદન પ્રક્રિયા જેવા પરિબળો પર આધાર રાખે છે.

નો-લોડ લોસ અને નો-લોડ કરંટ વધવાના મુખ્ય કારણો છે: સિલિકોન સ્ટીલ શીટ્સ વચ્ચેનું નબળું ઇન્સ્યુલેશન;સિલિકોન સ્ટીલ શીટ્સના ચોક્કસ ભાગનું શોર્ટ સર્કિટ;કોર બોલ્ટ્સ અથવા પ્રેશર પ્લેટ્સ, ઉપલા યોક્સ અને અન્ય ભાગોના ઇન્સ્યુલેશનને નુકસાનથી બનેલા ટૂંકા-સર્કિટ વળાંક;સિલિકોન સ્ટીલ શીટ છૂટક છે, અને હવાનું અંતર પણ દેખાય છે, જે ચુંબકીય પ્રતિકારને વધારે છે (મુખ્યત્વે નો-લોડ વર્તમાનમાં વધારો કરે છે);ચુંબકીય માર્ગ જાડા સિલિકોન સ્ટીલ શીટથી બનેલો છે (નો-લોડ લોસ વધે છે અને નો-લોડ કરંટ ઘટે છે);હલકી ગુણવત્તાવાળા સિલિકોન સ્ટીલનો ઉપયોગ થાય છે ટુકડાઓ (નાના વિતરણ ટ્રાન્સફોર્મર્સમાં વધુ સામાન્ય);વિવિધ વિન્ડિંગ ખામીઓ, જેમાં ઇન્ટર-ટર્ન શોર્ટ સર્કિટ, સમાંતર શાખા શોર્ટ સર્કિટ, દરેક સમાંતર શાખામાં વળાંકની વિવિધ સંખ્યા અને ખોટા એમ્પીયર-ટર્ન એક્વિઝિશનનો સમાવેશ થાય છે.આ ઉપરાંત, મેગ્નેટિક સર્કિટ વગેરેના અયોગ્ય ગ્રાઉન્ડિંગને કારણે, નો-લોડ લોસ અને વર્તમાન વધારો પણ થશે.નાના અને મધ્યમ કદના ટ્રાન્સફોર્મર્સ માટે, કોર સીમનું કદ ઉત્પાદન પ્રક્રિયા દરમિયાન નો-લોડ વર્તમાનને નોંધપાત્ર રીતે અસર કરી શકે છે.

ટ્રાન્સફોર્મરનું નો-લોડ ટેસ્ટ કરતી વખતે, સાધનો અને સાધનોની પસંદગીને સરળ બનાવવા અને પરીક્ષણની સલામતીની ખાતરી કરવા માટે, સાધન અને વીજ પુરવઠો સામાન્ય રીતે ઓછી-વોલ્ટેજ બાજુ અને ઉચ્ચ-વોલ્ટેજ બાજુ સાથે જોડાયેલા હોય છે. ખુલ્લું છોડી દેવામાં આવે છે.

નો-લોડ ટેસ્ટ એ રેટ કરેલ વોલ્ટેજ હેઠળ નો-લોડ નુકશાન અને નો-લોડ વર્તમાન માપવા માટે છે.પરીક્ષણ દરમિયાન, ઉચ્ચ-વોલ્ટેજ બાજુ ખુલ્લી છે, અને ઓછી-વોલ્ટેજ બાજુ દબાણયુક્ત છે.ટેસ્ટ વોલ્ટેજ એ લો-વોલ્ટેજ બાજુનું રેટેડ વોલ્ટેજ છે.ટેસ્ટ વોલ્ટેજ ઓછું છે, અને ટેસ્ટ કરંટ રેટ કરેલ વર્તમાનના થોડા ટકા છે.અથવા હજારમા.

નો-લોડ ટેસ્ટનું ટેસ્ટ વોલ્ટેજ એ લો-વોલ્ટેજ બાજુનું રેટેડ વોલ્ટેજ છે અને ટ્રાન્સફોર્મરનું નો-લોડ ટેસ્ટ મુખ્યત્વે નો-લોડ નુકશાનને માપે છે.નો-લોડ લોસ મુખ્યત્વે લોખંડની ખોટ છે.લોખંડની ખોટની તીવ્રતા લોડના કદથી સ્વતંત્ર ગણી શકાય, એટલે કે, નો-લોડ પરનું નુકસાન લોડ પરના લોખંડના નુકસાન જેટલું છે, પરંતુ આ રેટેડ વોલ્ટેજની પરિસ્થિતિનો સંદર્ભ આપે છે.જો વોલ્ટેજ રેટ કરેલ મૂલ્યથી વિચલિત થાય છે, કારણ કે ટ્રાન્સફોર્મર કોરમાં ચુંબકીય ઇન્ડક્શન ચુંબકીયકરણ વળાંકના સંતૃપ્તિ વિભાગમાં છે, નો-લોડ નુકશાન અને નો-લોડ પ્રવાહ તીવ્રપણે બદલાશે.તેથી, નો-લોડ પરીક્ષણ રેટ કરેલ વોલ્ટેજ પર હાથ ધરવામાં આવવું જોઈએ.