ડીસી વોલ્ટેજ ટેસ્ટ ડિવાઈસ અને એસી વોલ્ટેજ ટેસ્ટ ડિવાઈસનો સામનો કરવા વચ્ચેનો તફાવત

1. પ્રકૃતિમાં અલગ

એસી વોલ્ટેજ પરીક્ષણ ઉપકરણનો સામનો કરે છે: ઇલેક્ટ્રિકલ સાધનોની ઇન્સ્યુલેશન શક્તિને ઓળખવા માટેની સૌથી અસરકારક અને સીધી પદ્ધતિ.

ડીસી વોલ્ટેજ ટેસ્ટ ઉપકરણનો સામનો કરે છે: ઉચ્ચ વોલ્ટેજ પરીક્ષણ હેઠળ સાધનસામગ્રી સહન કરે છે તે પ્રમાણમાં મોટા પીક વોલ્ટેજને શોધવા માટે.

2. વિવિધ વિનાશક

ડીસી વોલ્ટેજ પરીક્ષણ ઉપકરણ: ડીસી વોલ્ટેજ હેઠળનું ઇન્સ્યુલેશન મૂળભૂત રીતે ડાઇલેક્ટ્રિક નુકશાન પેદા કરતું નથી, તેથી ડીસી વોલ્ટેજને ઇન્સ્યુલેશનને થોડું નુકસાન થાય છે.વધુમાં, કારણ કે ડીસીને વોલ્ટેજનો સામનો કરવા માટે માત્ર એક નાનો લિકેજ પ્રવાહ પ્રદાન કરવાની જરૂર છે, જરૂરી પરીક્ષણ સાધનોની ક્ષમતા ઓછી છે અને તે વહન કરવા માટે સરળ છે.

GDYD-M શ્રેણીના ઇન્સ્યુલેશન વોલ્ટેજ પરીક્ષણ ઉપકરણનો સામનો કરે છે

એસી વોલ્ટેજનો સામનો કરે છે: ડીસીનો સામનો કરતા વોલ્ટેજ કરતાં એસી વિથસ્ટેન્ડ વોલ્ટેજ ઇન્સ્યુલેશન માટે વધુ નુકસાનકારક છે.ટેસ્ટ કરંટ કેપેસિટીવ કરંટ હોવાથી, મોટી-ક્ષમતા પરીક્ષણ સાધનોની જરૂર છે.

ઇન્સ્યુલેશન નિવારક પરીક્ષણ

વિદ્યુત સાધનોના ઇન્સ્યુલેશનનું નિવારક પરીક્ષણ એ સાધનોની સલામત કામગીરીની ખાતરી કરવા માટે એક મહત્વપૂર્ણ માપ છે.પરીક્ષણ દ્વારા, સાધનસામગ્રીની ઇન્સ્યુલેશન સ્થિતિને નિપુણ બનાવી શકાય છે, ઇન્સ્યુલેશનની અંદર છુપાયેલા ખામીઓને સમયસર શોધી શકાય છે, અને જાળવણી દ્વારા ખામીઓને દૂર કરી શકાય છે.જો તે ગંભીર હોય, તો ઓપરેશન દરમિયાન સાધનોના ઇન્સ્યુલેશનને રોકવા માટે તેને બદલવું આવશ્યક છે.ભંગાણ, જેના પરિણામે ભરપાઈ ન થઈ શકે તેવું નુકસાન જેમ કે પાવર આઉટેજ અથવા સાધનોને નુકસાન.

ઇન્સ્યુલેશન નિવારક પરીક્ષણોને બે કેટેગરીમાં વિભાજિત કરી શકાય છે:

એક બિન-વિનાશક પરીક્ષણ અથવા ઇન્સ્યુલેશન લાક્ષણિકતા પરીક્ષણ છે, જે નીચા વોલ્ટેજ પર અથવા અન્ય પદ્ધતિઓ દ્વારા માપવામાં આવતા લાક્ષણિક પરિમાણોની વિવિધતા છે જે ઇન્સ્યુલેશનને નુકસાન પહોંચાડશે નહીં, જેમાં મુખ્યત્વે ઇન્સ્યુલેશન પ્રતિકાર, લિકેજ પ્રવાહ, ડાઇલેક્ટ્રિક નુકશાન સ્પર્શક વગેરેના માપનો સમાવેશ થાય છે. ., જેથી ઇન્સ્યુલેશનની અંદર કોઈ ખામી છે કે કેમ તે નક્કી કરી શકાય.પ્રયોગોએ સાબિત કર્યું છે કે આ પ્રકારની પદ્ધતિ અસરકારક છે, પરંતુ તેનો ઉપયોગ હાલમાં ઇન્સ્યુલેશનની ડાઇલેક્ટ્રિક તાકાતને વિશ્વસનીય રીતે નક્કી કરવા માટે કરી શકાતો નથી.

અન્ય વિનાશક પરીક્ષણ અથવા વોલ્ટેજ પરીક્ષણ ઉપકરણનો સામનો કરે છે.પરીક્ષણમાં લાગુ થયેલ વોલ્ટેજ સાધનોના કાર્યકારી વોલ્ટેજ કરતા વધારે છે.વિથસ્ટેન્ડ વોલ્ટેજમાં મુખ્યત્વે ડીસી વિથસ્ટેન્ડ વોલ્ટેજ, એસી વોલ્ટેજનો સામનો કરવો વગેરેનો સમાવેશ થાય છે.વોલ્ટેજ પરીક્ષણ ઉપકરણનો સામનો કરવાનો ગેરલાભ એ છે કે તે ઇન્સ્યુલેશનને ચોક્કસ નુકસાન પહોંચાડશે.